TEM原位拉伸與360°水平旋轉樣樣品桿

簡要描述：TEM原位拉伸與360°水平旋轉樣樣品桿

PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對材料施加拉力，結合透射電鏡原位觀察材料結構的變化。

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產品描述

PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對材料施加拉力，結合透射電鏡原位觀察材料結構的變化。

本套系統(tǒng)包括：單傾拉伸樣品桿、拉伸控制器、專用拉伸樣品載片。應用方向：研究金屬材料、納米材料、薄膜等的力學變化機制。

△ 適用于Thermofisher（FEI）、JEOL、Hitachi、Zeiss品牌透射電鏡

△ 兼容類型極靴

△ 保證透射電鏡原有分辨率

△ 最大拉伸位移：2 mm

△ 拉伸速率：0.2 um-50 um/s

△ 拉伸步長：小于100nm

TEM原位拉伸與360°水平旋轉樣樣品桿

產品描述

PicoFemto透射電鏡360°水平旋轉樣品桿，同時具備β角傾轉以及360°水平旋轉的功能，可以在透射電子顯微鏡中多自由度高精度旋轉樣品。

△ 兼容型號電鏡及極靴；

△ 保證電鏡原有分辨率；

△ 保證電鏡原有真空度；

△ 雙傾可選（±30°同時受限于極靴）；

△ 流暢、準確、連續(xù)地實現水平方向360°旋轉，延遲以及震動極?。?/span>

△ 高精度電機控制的β方向傾轉以及水平方向旋轉。

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